Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A.
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp), Katoh T.(tkato@jfcc.or.jp), Hirayama T.(hirayama@jfcc.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, critical current, PLD process, reel-to-reel process, long conductors, IBAD process, critical caracteristics, fabrication, length
Ключевые слова: coated conductors, IBAD process, buffer layers, PLD process, cap layers, reel-to-reel process, long conductors, grain alignment, fabrication
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, defects columnar, Jc/B curves, anisotropy, pinning, experimental results, microstructure, fabrication, critical caracteristics, substrate Hastelloy
Muroga T., Nagaya S., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Niwa T., Miyata S., Kashima N.(kashima.naoji@chuden.co.jp), Mori M.
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Ibi A., Muroga T.(muroga.takemi@hitachi-cable.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, cap layers, reel-to-reel process, texture, long conductors, fabrication, high rate process, PLD process
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Takahashi K.(ktakahashi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, YBCO, REBCO, REBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
Iijima Y., Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Niwa T., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, reel-to-reel process, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, grain alignment, microstructure, fabrication
Muroga T., Kiss T., Shiohara Y., Watanabe T., Watanabe T., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y., Yamada Y., Miyata S., Yamauchi K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A.
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, texture, critical current, substrate Hastelloy, thickness dependence, fabrication, critical caracteristics
Muroga T., Shiohara Y., Kiuchi M., Yamada Y., Miyata S., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A., Kimura K.
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp), Niwa T.(Niwa.Toshiharu@chuden.co.jp), Mori M.(Mori.Masami2@chuden.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductor modules, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, microstructure, texture, growth rate, fabrication
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shikimachi K.
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Iwai H.(iwai@istec.or.jp), Miyata S.
Muroga T., Nagaya S., Watanabe T., Yamada Y., Saito T., Onabe K., Niwa T., Miyata S., Kashima N.(kashima.naoji@chuden.co.jp)
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Sugawara Y., Hirayama T., Miyata S., Sasaki H.
Muroga T., Shiohara Y., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.